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Automatic test program generation from RT-level microprocessor descriptions

机译：从RT级微处理器描述生成自动测试程序

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F. Corno; G. Cumani; M. Sonza Reorda; G. Squillero;
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年度 2015
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机译：基于满意度的微处理器自动测试程序生成和设计
2. Automatic test generation for verifying microprocessors [J] . Corno F., Sanchez E., Reorda M.S., IEEE potentials . 2005,第1期

机译：自动生成测试以验证微处理器
3. Instrumentation III: The microprocessor takeover: On-the-spot mathematics, automatic testing, and portable calibration are yielding to microprocessor solutions [J] . Falk H., Kaplan G. Spectrum, IEEE . 1976,第4期

机译：仪器III：微处理器的接管：现场数学，自动测试和便携式校准正逐渐推向微处理器解决方案
4. Automatic test program generation from RT-level microprocessor descriptions [C] . Corno, F., Cumani, . 2002

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5. Automatic test program generation and novel test techniques for testing radio frequency and high-voltage device interface boards [D] . Kannan, Sukeshwar 2013

机译：自动测试程序生成和新颖的测试技术，用于测试射频和高压设备接口板
6. Applying modern psychometric techniques to melodic discrimination testing: Item response theory computerised adaptive testing and automatic item generation [O] . Peter M. C. Harrison, Tom Collins, Daniel Müllensiefen -1

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7. Automatic test bench generation for validation of RT-level descriptions: an industrial experience [O] . Corno Fulvio, Manzone A., Pincetti A., 2000

机译：自动生成测试平台以验证RT级描述：行业经验
8. Automatic Generation of Data Conversion-Programs Using a Data Description Language (DDL). Volume I. System Description and Documentation [R] . Ramirez, J. A. 1973

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